メニューをスキップしてこのページの本文へ超微細な検査技術で基板の精度を支える国際技術開発株式会社 englishenglishsitemap ロゴ
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会社概要
社長あいさつ
KGKの誇るもの、目指すもの
将来を見据えた基礎技術の研究開発
会社プロフィール
沿革
主な取引先
海外代理店
協力会社

沿革

昭和46年 国際技術開発株式会社を資本金1,000万円で設立し、
電子機器を主とする受託開発を開始
昭和47年 手動操作型磁気カードリーダーを開発
昭和48年 和文タイプライター式漢字入力装置を開発し製造開始
昭和50年 資本金を2,100万円に増資
消防自動車用の電磁流量計を開発、販売開始
赤外線炎感知機を開発、販売開始
昭和51年 防爆型炎感知器を開発、販売開始
昭和52年 平床式株券両面撮影装置を開発
超音波侵入センサーを開発
磁気通帳検査装置を開発
端末動作チェック機能付火災報知機を開発
昭和53年 和文タイプの活字を使用した電動タイプライターを開発
昭和54年 カスタムLSIの検査装置を開発
フレア監視装置を開発
昭和55年 防犯性能が極めて高い電気錠を開発、発売(海外)
化学車用原液流量計の開発および原液と水との混合制御装置を開発
昭和56年 トンネル用炎感知器を開発、発売
昭和57年 精度の高い印字位置と高品位印字を得ることができる清打プリンタを開発、販売開始
昭和58年 A/D変換装置を開発
昭和59年 海外で販売していた電気錠の国内販売も開始
昭和60年 資本金を4,200万円に増資
発明展に電気錠を出品、特別賞を受賞
ホテルロックシステムを開発
ロータリーソレノイドを開発
第五世代コンピュータの開発に参加
昭和61年 非常電話システムを開発(マレーシアの高速道路用)
昭和62年 高層ビルあるいは電力鉄塔等の変位計を開発
昭和63年 高速処理用画像端末装置を開発
平成2年 G4ファクシミリを開発
平成3年 高速画像検査装置を開発
金沢研究センター設置
平成5年 アイルランドに子会社TSI設立
表面欠陥検査装置を販売開始
平成7年 ラベル検査装置を開発、販売開始
TABテープ外観検査装置を販売開始
リードフレーム検査装置を販売開始
平成8年 新型電磁流量計を開発、販売開始
CSPテープ外観検査装置を販売開始
平成11年 銅箔シート(RCC)検査装置を販売開始
平成12年 CSPフレーム外観検査装置を販売開始
平成13年 TABテープ用インナーリード検査装置を販売開始
平成14年 銅箔シート用銅粉検査装置を販売開始
平成15年 COFテープ用パターン検査装置を販売開始
平成17年 銅箔シート用ピンホール検査装置を販売開始
平成18年 COFテープ最終外観検査装置(カラー)を販売開始
JPCA Show 2006 FPC Roll to Roll パターン外観検査装置
ICP Rigid Substrate 最終外観検査装置 出展
平成20年 COFテープ用ピット検査装置(カラー)を販売開始
M-Tech 機械要素技術展 高速異物混入検査装置
自動車部品 卓上型外観検査装置 出展
平成22年
蘇州 PCB Show Rigid-Flex FPC 最終外観検査装置 出展
平成23年
蘇州 PCB Show Rigid-Flex FPC 最終外観検査装置 出展
TPCA Show Rigid-Flex FPC 最終外観検査装置 出展
JPCA Show FPC Roll to Roll パターン外観検査装置 出展
SEMICON Japan ウェーハ検査装置
LEDライトバー検査装置 出展

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